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TableXAFS是一種基于同步輻射的先進表征技術。當X射線光子能量接近并超過材料中特定原子內層電子的電離閾值時，其吸收系數會出現閾值之上的精細振蕩結構。該振蕩來源于出射光電子波與周圍鄰近原子背散射電...

CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率，能夠精確測量微弱的光譜信號，揭示物質更細微的結構和性質。其次，該儀器具備較寬的波長覆蓋范圍，可以覆蓋從近紫外到真空紫外區域的多個波長范圍，滿足各種研究需求...

高分辨平場光譜儀，采?全息凹球?變線距光柵進?分光，具有平場特性，便于使??陣CCD記錄光譜。光柵?作在掠?射模式下，衍射效率?，同時通過選?不同的光柵型號，可以實現波?范圍1~30nm的全覆蓋。

X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀同步輻射X射線吸收近邊結構主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。

擴展x射線吸收精細結構譜儀主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價態、 配位數、位形與鍵長。

X射線吸收精細譜儀是一種基于同步輻射光源的大型科學實驗裝置，它通過精確測量材料在特定元素吸收邊附近對X射線的吸收系數隨光子能量的變化規律（即X射線吸收精細結構，XAFS），來獲取該元素原子尺度的局部結...

雙PMT探測器是一種使用兩個光電倍增管作為探測元件的裝置。PMT是一種真空電子器件，具有高靈敏度和高增益的特點。當光陰極面受到光照后，由于光電效應會釋放出光電子，這些光電子在倍增級中實現連續的倍增，從...

配位結構表征是化學領域中用于描述和定義配位化合物空間結構和特性的重要手段。它涉及對配位物的空間排列方式、中心原子與配位體之間的相互作用以及整體穩定性的詳細分析。

真空紫外分光光度計是一種專門用于測量材料在10-200 nm波長范圍內（即真空紫外區）的吸光度、反射率或透射率的精密分析儀器。它與普通紫外-可見分光光度計的核心區別就在于其真空密封的光路系統和適用于該...

超環面光柵單色器 是一種利用表面形狀為超環面的衍射光柵，將寬波段、連續譜的入射光（如同步輻射光）在空間上進行色散，并從中選擇出單一波長的單色光輸出的精密光學裝置。