產品中心
Product Center
產品簡介
TableXAFS是一種基于同步輻射的先進表征技術。當X射線光子能量接近并超過材料中特定原子內層電子的電離閾值時，其吸收系數會出現閾值之上的精細振蕩結構。該振蕩來源于出射光電子波與周圍鄰近原子背散射電子波之間的干涉效應，其結構蘊含著吸收原子周圍的局部原子結構信息，包括配位原子種類、距離、配位數及無序度等。
| 品牌 | 創譜specreation | 應用領域 | 環保,化工,生物產業,能源 |
|---|---|---|---|
| 能量范圍 | 4.5-20keV | 能量分辨率 | 0.5-1.5eV(7-9keV,近邊) |
| X射線光源 | 1.2-1.6kW閉管 | 光通量 | 1,000,000-2,000,000photons/sec/eV@9keV |
| 單色器晶體 | 直徑100mm,球面半徑500mm(Si/Ge)) | 探測器 | SDD探測器 |
| 自動樣品輪 | 16工位 |
x射線吸收發射譜儀(TableXAFS)利用常規X光源實現X射線吸收精細結構（XAFS）的光譜測量，對同步輻射等重大科技基礎設施及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器具有很好的補充和拓展作用。該產品目前已被北京大學、北京航空航天大學、天津大學、華北電力大學、青海大學、安徽大學等眾多高校選購，有效助力相關科學研究和應用開拓！
小型化桌面式系統，易于使用：
· 支持近邊快掃功能；
· 支持原位測試等擴展功能；
· 人體工學高度設計，操作更便捷；
· 內置實驗參數預置，實現快速測量；
· 不同樣品、不同測量模式一鍵自動切換；
· 遠程數據傳輸，實時顯示實驗進程和結果支持無人值守測試；
· 專業的應用技術支持和數據分析支持；
· 儀器具有輻射豁免資質和多重安全防護聯鎖，保證人身和使用安全。
XAFS專用彎晶：
· 不同晶面配置齊全，實現各個元素覆蓋；
· 預準直安裝，即插即用；
· 可根據需要元素定制特殊彎晶，達到最佳性能。
X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀能量掃描機構：
· 聯動掃描機構；
· 實現光源、彎晶、樣品和探測器的精密聯動；
· 精度和分辨率高，穩定性好。
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