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TableXAFS是一種基于同步輻射的先進(jìn)表征技術(shù)。當(dāng)X射線光子能量接近并超過材料中特定原子內(nèi)層電子的電離閾值時(shí)，其吸收系數(shù)會(huì)出現(xiàn)閾值之上的精細(xì)振蕩結(jié)構(gòu)。該振蕩來源于出射光電子波與周圍鄰近原子背散射電子波之間的干涉效應(yīng)，其結(jié)構(gòu)蘊(yùn)含著吸收原子周圍的局部原子結(jié)構(gòu)信息，包括配位原子種類、距離、配位數(shù)及無序度等。

CT型真空紫外光譜儀具備較高的靈敏度和分辨率，能夠精確測(cè)量微弱的光譜信號(hào)，揭示物質(zhì)更細(xì)微的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。其次，該儀器具備較寬的波長(zhǎng)覆蓋范圍，可以覆蓋從近紫外到真空紫外區(qū)域的多個(gè)波長(zhǎng)范圍，滿足各種研究需求。

真空紫外光譜儀采用Seya- Namioka光路結(jié)構(gòu)，入射狹縫和CCD探測(cè)器位于羅蘭圓上，可以單色模式和光譜模式切用 。

x射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀，原位X射線吸收光譜是一種利用同步輻射光源或高性能實(shí)驗(yàn)室X射線源，測(cè)量并分析材料對(duì)X射線的吸收系數(shù)隨光子能量變化的精細(xì)結(jié)構(gòu)的大型實(shí)驗(yàn)裝置。通過在反應(yīng)過程中實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)吸收邊的近邊（XANES）和擴(kuò)展邊（EXAFS）信號(hào)，揭示材料在真實(shí)環(huán)境中的結(jié)構(gòu)演化規(guī)律，為理解構(gòu)效關(guān)系、優(yōu)化材料設(shè)計(jì)提供直接依據(jù)。

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀X射線吸收光譜測(cè)試主要測(cè)量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性，例如核心原子的價(jià)態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長(zhǎng)。